EDX 6000D 地質礦產元素分析光譜儀

       專為地質行業而設計，可分析微量的Na~U元素，高性能、高精度，快速無損分析地質中元素含量。

性能優勢:

高效超薄窗X光管，全系原裝進口
高效X射線光管進一步提升性能
無標樣分析和多參數線性回歸方法，使測量更簡單和結果更準確 
原裝進口硅漂移探測器，超高分辨率、峰背比、計數率 

標準配置：

高效超薄Be窗X光管 
高性能電制冷硅漂移探測器
光路增強系統 
高內置高清晰攝像頭 
多重安全保護模式 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序 
整體鋼架結構，力度可靠的保證

技術指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
分析精度：0.035%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性） 
測量時間：60秒-200秒 
能量分辨率為：（130±5）eV 
管壓：5KV-50KV 
管流：0uA-1000uA

應用領域：

地質礦產、銅礦、鐵礦、鉛鋅礦等